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234G射頻測試方案

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手機生產(chǎn)過程中使用的器件雖然是一樣的但是這些相同的器件之間都是有差異的,組合出來的產(chǎn)品必然是有差異的,如果這些差異超出標準范圍那就視為不良品。所以校準的目的就是將這些差異調(diào)整到一個符合標準的范圍內(nèi)。而綜測就是對于校準的檢查。
產(chǎn)品詳情

概述

? 基于3gpp標準CMW500設(shè)備進行測試,測試結(jié)果就是標準,可信賴;

? 一拖二測試,測試速度快,較大程度提高儀器利用率,提高生產(chǎn)產(chǎn)出;

? 一鍵測試,操作簡單,測試結(jié)果一目了然;

? 可對產(chǎn)品進行如輸出功率,頻偏,靈敏度等測試;

? 數(shù)據(jù)自動保存,便于管控產(chǎn)品質(zhì)量;

? 基于R&S CMW500;

? 軟件支持開發(fā)定制;

? 強大的售后團隊,保障生產(chǎn);

特性

支持CMW500   一拖二設(shè)計    典型設(shè)置

4G產(chǎn)品測試分為以下環(huán)節(jié):

1、4G LTE校準綜測

手機生產(chǎn)過程中使用的器件雖然是一樣的但是這些相同的器件之間都是有差異的,組合出來的產(chǎn)品必然是有差異的,如果這些差異超出標準范圍那就視為不良品。所以校準的目的就是將這些差異調(diào)整到一個符合標準的范圍內(nèi)。而綜測就是對于校準的檢查。

校準綜測主要還是對于4G產(chǎn)品RF的測試,生產(chǎn)出來主板之后,針對不同的頻段進行一個信號的測試,確保產(chǎn)品能夠正常識別SIM卡和網(wǎng)絡(luò)。大概可以分為 LTE、WCDMA、GSM三個模塊,細分的話就可以分為 GSM/TDD-LTE/FDD-LTE/WCDMA/CDMA/TD-SCDMA/ 這也就是手機的六模,也就是咱們所說的全網(wǎng)通產(chǎn)品支持的所有制式,測試的時候針對產(chǎn)品支持的制式進行測試。當然有的時候也會對WIFI\BT\GPS 進行綜測測試。

2、耦合測試

耦合測試主要就是模擬整機的一個實際使用環(huán)境,測試手機在天線環(huán)境下的射頻

性能。主要檢測天線與主板之間的匹配性,測試重點就是天線效率與性能。

3、寫IMEI號

功能:把IMEI號,入網(wǎng)號寫入產(chǎn)品和數(shù)據(jù)庫中

4G LTE性能綜測

序號

測試項

裝備門限

單位

備注

GSM

發(fā)射機輸出功率

B3 功率等級0-15

B8 功率等級5-19

dBm

GSM測試:

       測試場景要求:

          進入GSM測試發(fā)射/接收模式 (需要的是的頻段為:低、中、高間信道)

 產(chǎn)品命令需求:

     設(shè)置測試模式設(shè)置GSM

          2.  設(shè)置GSM測試模式頻段設(shè)置

          3. 設(shè)置GSM測試模式使能發(fā)射模式、使能接收模式

          4. 獲取GSM測試接收模式丟包率

發(fā)射機功率Vs時間模板

符合ITU標準


調(diào)制譜和開關(guān)譜

符合ITU標準



頻率誤差

B3[-180Hz,180Hz]

B8[-90Hz,90Hz]

Hz

峰值相位誤差

[<20.00]

均方值相位誤差

[5]

靈敏度

B3 為-100dBm

B8為-102dBm

dBm

接收質(zhì)量

0-4

-

接收誤碼率

<2.4% at-102/-100dBm(MTK平臺)

-

序號

測試項

裝備門限

單位

備注

WCDMA

較大發(fā)射功率

24 +1,-3

dBm

WCDMA測試:

測試場景要求:

進入WCDMA測試發(fā)射/接收模式 (需要的是的頻段為:低、中、高間信道)控制芯片端

產(chǎn)品命令需求:

     設(shè)置測試模式設(shè)置WCDMA

          2.  設(shè)置WCDMA測試模式頻段設(shè)置

          3. 設(shè)置WCDMA測試模式使能發(fā)射模式、使能接收模式

          4. 獲取WCDMA測試接收模式丟包率

頻率誤差

±(0.1PPm+10)

Hz

峰占用帶寬

[<4.3]

MHz

ACLR鄰信道泄露功率系數(shù)


dB

EVM誤差矢量幅度

12%

%

Mask頻率發(fā)射模板

基于-50dBm/3.84mHz要求


參考靈敏度

0-4

<0.001%

編號

用例名稱

設(shè)計描述

預(yù)置條件

預(yù)期結(jié)果

樣機數(shù)量

備注

LTE 簡單性能測試

RF_LTE_6.2.2_and_6.2.3

LTE_UE_Maximum_Output_Power_and_LTE_Maximum_Power_Reduction

驗證UE的最大輸出功率是否符合UE Power Class 要求的功率范圍。/為了滿足ACLR的要求,最大發(fā)射功率根據(jù)CM進行最大功率回退,驗證MPR是否滿足要求

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.2.2.5-1和Table 6.2.3.5-1

3


RF_LTE_6.3.2

LTE_Minimum_Output_Power

驗證UE發(fā)射最小發(fā)射功率的能力

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.3.2.5-1

3


RF_LTE_6.3.3_and_6.3.4.1

LTE_Transmit_OFF_Power_and_LTE_General_ON_OFF_Time_Mask

驗證UE發(fā)射關(guān)斷時的功率是否滿足要求

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.3.3.5-1和Table 6.3.4.1.5-1

3

經(jīng)常出現(xiàn)掉線的現(xiàn)象

RF_LTE_6.3.4.2.1

LTE_PRACH_Time_Mask

驗證PRACH接入時功率是否滿足協(xié)議要求

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1Table 6.3.4.2.1.5-1和 詳見3GPP TS 36.521-1Table 6.3.4.2.2.5-1

3

經(jīng)常出現(xiàn)掉線的現(xiàn)象

RF_LTE_6.3.4.2.2

LTE_SRS_Time_Mask

驗證SRS接入時功率是否滿足協(xié)議要求

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1Table 6.3.4.2.1.5-1和 詳見3GPP TS 36.521-1Table 6.3.4.2.2.5-2

3

經(jīng)常出現(xiàn)掉線的現(xiàn)象

RF_LTE_6.3.5.1

LTE_Power_Control_Absolute_Power_Tolerance

當UE在較長時間間隔(大于10ms)之內(nèi)發(fā)射功率設(shè)定為一特定值(可以相鄰發(fā)射,也可以不相鄰發(fā)射)的情況下,驗證UE的發(fā)射能力。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1Table 6.3.5.1.5-1和Table 6.3.5.1.5-2

3


RF_LTE_6.3.5.2

LTE_Power_Control_Relative_Power_Tolerance

驗證UE在相對功率變化下的能力,其中功率變化的時間間隔要求為≤ 20 ms的子幀。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1Table 6.3.5.2.5-1~ Table 6.3.5.2.5-13

3


RF_LTE_6.5.1

LTE_Frequency_Error

驗證收發(fā)信機的頻率準確度。

HTLV/HTHV

|Δf| ≤ (0.1 PPM + 15 Hz)

3


RF_LTE_6.5.2.2

LTE_Carrier_Leakage

交叉干擾或者DC偏置都會導致載波泄漏,這些都是無用的信號;因此需要驗證載波泄漏的大小。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.5.2.2.5-1

3


RF_LTE_6.5.2.3.1

LTE_In_Band_Emissions_for_Non_Allocated_RB

測試落入非分配RB的干擾大小。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.5.2.3.5-1和3GPP Table 6.5.2.3.5-1

3


RF_LTE_6.5.2.3.2

LTE_In_Band_Emissions_for_Non_Allocated_RB_PUCCH

測試落入非分配RB的干擾大小。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.5.2.3.5-1和3GPP Table 6.5.2.3.5-1

3


RF_LTE_6.5.2.4

LTE_EVM_Equalizer_Spectrum_Flatness

EVM均衡譜平坦度定義為測試EVM進程中產(chǎn)生的均衡系數(shù)的波動;在EVM測試進程中不能由于EVM均衡譜平坦度大導致信號的不準確性,因此需要滿足最低要求。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.5.2.4.5-1和3GPP Table 6.5.2.4.5-2

3

會出現(xiàn)誤讀的現(xiàn)象

RF_LTE_6.6.2.3

LTE_Adjacent_Channel_Leakage_Power_Ratio

測試發(fā)射機ACLR是否滿足要求

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.6.2.3.5.2-1

3


RF_LTE_7.3

LTE_Reference_Sensitivity_Level

驗證UE在低信號、理想傳播條件、無加性噪聲情況下,接收數(shù)據(jù)信號能力

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 7.3.5-1和Table 7.3.5-2

3



234G射頻測試方案
234G射頻測試方案

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手機生產(chǎn)過程中使用的器件雖然是一樣的但是這些相同的器件之間都是有差異的,組合出來的產(chǎn)品必然是有差異的,如果這些差異超出標準范圍那就視為不良品。所以校準的目的就是將這些差異調(diào)整到一個符合標準的范圍內(nèi)。而綜測就是對于校準的檢查。
15818642232
產(chǎn)品詳情

概述

? 基于3gpp標準CMW500設(shè)備進行測試,測試結(jié)果就是標準,可信賴;

? 一拖二測試,測試速度快,較大程度提高儀器利用率,提高生產(chǎn)產(chǎn)出;

? 一鍵測試,操作簡單,測試結(jié)果一目了然;

? 可對產(chǎn)品進行如輸出功率,頻偏,靈敏度等測試;

? 數(shù)據(jù)自動保存,便于管控產(chǎn)品質(zhì)量;

? 基于R&S CMW500;

? 軟件支持開發(fā)定制;

? 強大的售后團隊,保障生產(chǎn);

特性

支持CMW500   一拖二設(shè)計    典型設(shè)置

4G產(chǎn)品測試分為以下環(huán)節(jié):

1、4G LTE校準綜測

手機生產(chǎn)過程中使用的器件雖然是一樣的但是這些相同的器件之間都是有差異的,組合出來的產(chǎn)品必然是有差異的,如果這些差異超出標準范圍那就視為不良品。所以校準的目的就是將這些差異調(diào)整到一個符合標準的范圍內(nèi)。而綜測就是對于校準的檢查。

校準綜測主要還是對于4G產(chǎn)品RF的測試,生產(chǎn)出來主板之后,針對不同的頻段進行一個信號的測試,確保產(chǎn)品能夠正常識別SIM卡和網(wǎng)絡(luò)。大概可以分為 LTE、WCDMA、GSM三個模塊,細分的話就可以分為 GSM/TDD-LTE/FDD-LTE/WCDMA/CDMA/TD-SCDMA/ 這也就是手機的六模,也就是咱們所說的全網(wǎng)通產(chǎn)品支持的所有制式,測試的時候針對產(chǎn)品支持的制式進行測試。當然有的時候也會對WIFI\BT\GPS 進行綜測測試。

2、耦合測試

耦合測試主要就是模擬整機的一個實際使用環(huán)境,測試手機在天線環(huán)境下的射頻

性能。主要檢測天線與主板之間的匹配性,測試重點就是天線效率與性能。

3、寫IMEI號

功能:把IMEI號,入網(wǎng)號寫入產(chǎn)品和數(shù)據(jù)庫中

4G LTE性能綜測

序號

測試項

裝備門限

單位

備注

GSM

發(fā)射機輸出功率

B3 功率等級0-15

B8 功率等級5-19

dBm

GSM測試:

       測試場景要求:

          進入GSM測試發(fā)射/接收模式 (需要的是的頻段為:低、中、高間信道)

 產(chǎn)品命令需求:

     設(shè)置測試模式設(shè)置GSM

          2.  設(shè)置GSM測試模式頻段設(shè)置

          3. 設(shè)置GSM測試模式使能發(fā)射模式、使能接收模式

          4. 獲取GSM測試接收模式丟包率

發(fā)射機功率Vs時間模板

符合ITU標準


調(diào)制譜和開關(guān)譜

符合ITU標準



頻率誤差

B3[-180Hz,180Hz]

B8[-90Hz,90Hz]

Hz

峰值相位誤差

[<20.00]

均方值相位誤差

[5]

靈敏度

B3 為-100dBm

B8為-102dBm

dBm

接收質(zhì)量

0-4

-

接收誤碼率

<2.4% at-102/-100dBm(MTK平臺)

-

序號

測試項

裝備門限

單位

備注

WCDMA

較大發(fā)射功率

24 +1,-3

dBm

WCDMA測試:

測試場景要求:

進入WCDMA測試發(fā)射/接收模式 (需要的是的頻段為:低、中、高間信道)控制芯片端

產(chǎn)品命令需求:

     設(shè)置測試模式設(shè)置WCDMA

          2.  設(shè)置WCDMA測試模式頻段設(shè)置

          3. 設(shè)置WCDMA測試模式使能發(fā)射模式、使能接收模式

          4. 獲取WCDMA測試接收模式丟包率

頻率誤差

±(0.1PPm+10)

Hz

峰占用帶寬

[<4.3]

MHz

ACLR鄰信道泄露功率系數(shù)


dB

EVM誤差矢量幅度

12%

%

Mask頻率發(fā)射模板

基于-50dBm/3.84mHz要求


參考靈敏度

0-4

<0.001%

編號

用例名稱

設(shè)計描述

預(yù)置條件

預(yù)期結(jié)果

樣機數(shù)量

備注

LTE 簡單性能測試

RF_LTE_6.2.2_and_6.2.3

LTE_UE_Maximum_Output_Power_and_LTE_Maximum_Power_Reduction

驗證UE的最大輸出功率是否符合UE Power Class 要求的功率范圍。/為了滿足ACLR的要求,最大發(fā)射功率根據(jù)CM進行最大功率回退,驗證MPR是否滿足要求

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.2.2.5-1和Table 6.2.3.5-1

3


RF_LTE_6.3.2

LTE_Minimum_Output_Power

驗證UE發(fā)射最小發(fā)射功率的能力

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.3.2.5-1

3


RF_LTE_6.3.3_and_6.3.4.1

LTE_Transmit_OFF_Power_and_LTE_General_ON_OFF_Time_Mask

驗證UE發(fā)射關(guān)斷時的功率是否滿足要求

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.3.3.5-1和Table 6.3.4.1.5-1

3

經(jīng)常出現(xiàn)掉線的現(xiàn)象

RF_LTE_6.3.4.2.1

LTE_PRACH_Time_Mask

驗證PRACH接入時功率是否滿足協(xié)議要求

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1Table 6.3.4.2.1.5-1和 詳見3GPP TS 36.521-1Table 6.3.4.2.2.5-1

3

經(jīng)常出現(xiàn)掉線的現(xiàn)象

RF_LTE_6.3.4.2.2

LTE_SRS_Time_Mask

驗證SRS接入時功率是否滿足協(xié)議要求

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1Table 6.3.4.2.1.5-1和 詳見3GPP TS 36.521-1Table 6.3.4.2.2.5-2

3

經(jīng)常出現(xiàn)掉線的現(xiàn)象

RF_LTE_6.3.5.1

LTE_Power_Control_Absolute_Power_Tolerance

當UE在較長時間間隔(大于10ms)之內(nèi)發(fā)射功率設(shè)定為一特定值(可以相鄰發(fā)射,也可以不相鄰發(fā)射)的情況下,驗證UE的發(fā)射能力。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1Table 6.3.5.1.5-1和Table 6.3.5.1.5-2

3


RF_LTE_6.3.5.2

LTE_Power_Control_Relative_Power_Tolerance

驗證UE在相對功率變化下的能力,其中功率變化的時間間隔要求為≤ 20 ms的子幀。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1Table 6.3.5.2.5-1~ Table 6.3.5.2.5-13

3


RF_LTE_6.5.1

LTE_Frequency_Error

驗證收發(fā)信機的頻率準確度。

HTLV/HTHV

|Δf| ≤ (0.1 PPM + 15 Hz)

3


RF_LTE_6.5.2.2

LTE_Carrier_Leakage

交叉干擾或者DC偏置都會導致載波泄漏,這些都是無用的信號;因此需要驗證載波泄漏的大小。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.5.2.2.5-1

3


RF_LTE_6.5.2.3.1

LTE_In_Band_Emissions_for_Non_Allocated_RB

測試落入非分配RB的干擾大小。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.5.2.3.5-1和3GPP Table 6.5.2.3.5-1

3


RF_LTE_6.5.2.3.2

LTE_In_Band_Emissions_for_Non_Allocated_RB_PUCCH

測試落入非分配RB的干擾大小。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.5.2.3.5-1和3GPP Table 6.5.2.3.5-1

3


RF_LTE_6.5.2.4

LTE_EVM_Equalizer_Spectrum_Flatness

EVM均衡譜平坦度定義為測試EVM進程中產(chǎn)生的均衡系數(shù)的波動;在EVM測試進程中不能由于EVM均衡譜平坦度大導致信號的不準確性,因此需要滿足最低要求。

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.5.2.4.5-1和3GPP Table 6.5.2.4.5-2

3

會出現(xiàn)誤讀的現(xiàn)象

RF_LTE_6.6.2.3

LTE_Adjacent_Channel_Leakage_Power_Ratio

測試發(fā)射機ACLR是否滿足要求

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 6.6.2.3.5.2-1

3


RF_LTE_7.3

LTE_Reference_Sensitivity_Level

驗證UE在低信號、理想傳播條件、無加性噪聲情況下,接收數(shù)據(jù)信號能力

HTLV/HTHV

參考3GPP TS 36.521-1 Table 7.3.5-1和Table 7.3.5-2

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